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一种阵列光纤长度差距的测量方法

时间:2011-08-15 浏览次数:3427次

【申请号】

201010042694

【公开号】

102121851A

【公开日】

2011/07/13

【专利类别】

发明

【发明名称】

一种阵列光纤长度差距的测量方法

【发明人】

王忠健;陈思乡

【申请人】

深圳新飞通光电子技术有限公司

 

【文摘】本发明提供一种阵列光纤长度差距的测量方法,包括:第一步,准备测试装置,包括:一宽带光源、一具有一输入端口和第一和第二输出端口的光环形器、一1×2光耦合器、一多通道阵列光纤和一光谱分析仪;第二步,将光环形器的输入端口与所述宽带光源光耦合,并使光环形器的第一输出端与1×2光耦合器的输入端光耦合,所述第二输出端口与光谱分析仪光耦合,1×2光耦合器的两输出端与多通道阵列光纤待测试的任意两路光纤各自光耦合,并自由空间范围(FSR)数据值,再换算成以频率表示的自由空间范围(FSRv)数据值;第三步,通过公式计算出多通道阵列光纤的待测试两路光纤差距d值,当大于0.2mm时,研磨长端光纤,使其达到要求。

 

【主权利要求】1.一种阵列光纤长度差距的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步,准备测试装置,包括:一宽带光源(1)、一具有一输入端口和第一和第二输出端口的光环形器(2)、一1×2光耦合器(3)、一多通道阵列光纤(4)和一光谱分析仪(5);第二步,将所述光环形器(2)的输入端口与所述宽带光源1光耦合,并使所述光环形器(2)的第一输出端与所述1×2光耦合器(3)的输入端光耦合,所述第二输出端口与所述光谱分析仪(5)光耦合,所述1×2光耦合器(3)的两输出端与所述多通道阵列光纤(4)待测试的任意两路光纤各自光耦合,所述宽带光源(1)的光进入光环形器(2)的输入端,并由其第二输出端通过所述1×2光耦合器(3)分光后分别进入所述待测试两路光纤,通过其光纤端面反射后产生的干涉信号从所述光环形器(2)的第二输出端进入所述光谱分析仪(5),并测得以波长表示的自由空间范围(FSR)数据值,再换算成以频率表示的自由空间范围(FSRv)数据值;第三步,通过下列公式计算出多通道阵列光纤(4)的待测试两路光纤差距d值:(math)??(mrow)?(mi)FSRv(/mi)?(mo)=(/mo)?(mfrac)?(mi)C(/mi)?(mrow)?(mi)n(/mi)?(mo)*(/mo)?(mi)d(/mi)?(/mrow)?(/mfrac)?(/mrow)?(/math)其中C表示真空中光速,n表示光纤纤芯折射率。FSRv表示以频率表示的自由空间范围数据值;第四步,当两路光纤差距d大于0.2mm时,通过研磨任意一路光纤的端面后,再重复第二和第三步骤,计算出待测试两路光纤差距d值,若d值变小,说明研磨的是长光纤,继续研磨,直到d值符合规定要求,若d值变大,则说明研磨的是短光纤,更换研磨长光纤,使d值符合规定要求。

 

 

 
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